日前，公司理化研究室兩臺(tái)新引進(jìn)的理化檢測(cè)設(shè)備：電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀和馬爾XR20粗糙度，安裝調(diào)試完畢，正式投入使用。

　　工欲善其事必先利其器。近幾年來，我公司積極著眼未來發(fā)展，籌措資金，新上了一大批國內(nèi)外先進(jìn)的理化檢測(cè)設(shè)備，為公司科研試制和提高產(chǎn)品質(zhì)量提供更為先進(jìn)的手段。

　　此兩臺(tái)檢測(cè)設(shè)備的使用，使我公司理化檢測(cè)進(jìn)一步闊寬了深度和廣度，為科研提供了新的力器。

　　電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（iCAP 7400型），美國熱電公司生產(chǎn)。

　　工作原理：原子發(fā)射光譜（AES）分析法是利用原子發(fā)射特征譜線所提供的信息來進(jìn)行元素分析，具有多元素同時(shí)、快速、直接測(cè)定的優(yōu)點(diǎn)。電感耦合等離子體（簡稱為ICP）發(fā)射光譜分析法是以等離子炬為激發(fā)光源的一種原子發(fā)射光譜分析技術(shù)，簡稱為ICP-AES或ICP-OES，是原子光譜分析中研究最為深入和應(yīng)用最廣泛、有效的分析技術(shù)之一。

　　主要功能：

　　1、定性分析：根據(jù)特征譜線的波長，便可以識(shí)別不同原子的存在，從而可以達(dá)到定性分析的目的。

　　2、定量分析：元素原子光譜的譜線強(qiáng)度與試樣中相應(yīng)原子的含量有一定的函數(shù)關(guān)系，根據(jù)這種關(guān)系實(shí)現(xiàn)元素的定量分析。

　　馬爾XR20粗糙度（XR20），德國出品。

　　工作原理：觸針直接在工件被測(cè)表面上輕輕劃過，由于被測(cè)表面輪廓峰谷起伏，觸針將在垂直于被測(cè)輪廓表面方向上產(chǎn)生上下移動(dòng)，這種移動(dòng)通過電子裝置把信號(hào)加以放大，然后通過輸出裝置將有關(guān)粗糙度的數(shù)據(jù)和圖形輸出來。

　　主要功能：測(cè)量試樣的表面粗糙度，如Ra、Rmax、Rz等。且配合不同規(guī)格的測(cè)針可以測(cè)量管材及異形絲等特殊試樣的表面粗糙度。

　　技術(shù)參數(shù)：測(cè)量量程: ±250 um, ±500 um，粗糙度輪廓分辨率: ±250 um量程為7nm; ±500 um量程為50nm精度: 優(yōu)于ISO/DIN 標(biāo)準(zhǔn)1級(jí)精度，驅(qū)動(dòng)器的最大行程為25mm